2019-4-26文字：6165cc金沙总站检测中心           摄影：6165cc金沙总站检测中心

2019年4月26日上午，美国加州大学王琛博士访问我校6165cc金沙总站检测中心，并在桃李学术论坛做了题为“van der Waals and Chemical Integration of Nanoscale Materials: from Basic Material Science to Nanoscale Devices Engineering”的专题报告。报告会由褚海斌教授主持，6165cc金沙总站检测中心院长张军教授、谷晓俊教授等多位教师与研究生、本科生参加了报告会。王琛博士先是从摩尔定律出发，介绍了半导体器件的发展历史。随后重点介绍了他在基于二维材料，尤其是二维异质材料的半导体器件方面的突破性工作。报告之后，王琛博士又同在座师生进行了交流。

王琛，本科毕业于武汉大学，博士毕业于美国加州大学洛杉矶分校 (UCLA)，师从段镶锋教授。研究专注于下一代半导体光电器件，尤其是低维半导体器件研究。多项成果发表在国际著名杂志，如Nature、Science、Nature Nanotechnology、Chemical Society Review、ACS Nano、Nature Communications、Science Advances、Nano Letters，以及书籍章节1章等。

图一为王琛教授为研究生、本科生作讲座。

图二为学院师生。